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最終更新: 2026年10月27日 · VLSI Museum Terms

ZAM (Z-Angle Memory)

ZAM(Z-Angle Memory)は、日本のSAIMEMORYが米Intelと共同で実用化を進める次世代DRAMベースのメモリー技術である。DRAMダイを水平に積み重ねる従来のHBM(広帯域メモリー)方式と異なり、ダイを縦に立てて並べる「垂直ビルド(Z-Angle)」構造と、配線を使わず磁界で接続する「磁界結合無線通信I/O」を組み合わせたことが特徴である。

構造

垂直ビルドではDRAMダイが基板上に寝ず、縦に立った 형태で配列される。ダイの広い面が露出するため積層内部に熱がこもる問題が緩和され、配線層が放熱を妨げて生じるHBMの積層数制約(約20層)を理論上取り除くことができるとSAIMEMORYは説明する。ホストダイとの接続には物理配線ではなく磁界結合(誘導結合)無線通信I/Oを用いる。

HBM horizontal stack and TSV versus ZAM vertical build and magnetic coupling
HBMの水平積層+TSVとZAMの垂直ビルド+磁界結合の比較。Source: SAIMEMORY official PR, Apr 22, 2026.

基盤技術 — Intel NGDB

ZAMの接合基盤技術は、Intelが米エネルギー省(DOE)・国家核安全保障局(NNSA)のAdvanced Memory Technology(AMT)プログラムのもと、Sandia・Lawrence Livermore・Los Alamos各国立研究所と進めたNext Generation DRAM Bonding(NGDB)イニシアチブである。2026年VLSI Symposium論文(Lu et al., SAIMEMORY)は、9層(DRAM 8層 × 1.125GB = 9GB + コントロール1層)、層あたりシリコン3µm、層ごとに金属リング2~3個と接する単一ビア(via-in-one)、フュージョンボンディング構造を報告した。

Inside NGDB nine layer stack diagram
NGDB 9層積層の再作図。Source: Lu et al., VLSI Symposium 2026 (SAIMEMORY).
Cross-section photograph of the NGDB test assembly
NGDBテストアセンブリの断面写真。Photo: Intel via Sandia National Laboratories.

HBMとの比較

区分HBMZAM
ダイ配列水平積層垂直ビルド(ダイを立てて配列)
接続方式TSVによる物理配線磁界結合無線通信I/O(配線なし)
積層制約配線層の放熱で約20層が限界とされる理論上、積層数制約の解消を目標
状態AIデータセンター向けに量産供給中試作 FY2027、実用化 FY2029 目標

年表

2024年12月SAIMEMORY設立(ソフトバンク100%子会社、東京)
2026年2月IntelとZAM実用化の協業契約を締結
2026年4月NEDO研究開発助成事業に採択、シリーズA調達
2026年9月新光電気工業と実装・製造技術の協業基本合意
2026年10月SkyeChipと設計・エンジニアリング契約
FY2027(目標)試作品製作
FY2029(目標)実用化

関連用語

HBM(広帯域メモリー) · DRAM · TSV(シリコン貫通電極) · ハイブリッドボンディング · SAIMEMORY

出典